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Verios 的生命科學應用

• 觀測敏感的生物樣本時，過高的成像電壓帶來的電子束會損傷樣本，從而無法在細胞研究中觀測關鍵細節(jié)。Verios XHR 掃描電子顯微鏡 (SEM) 最低可在 1kV 的電子束電壓下工作，因而能最大限度減少樣本干擾，同時又不會削弱分辨率和對比度。生物研究人員現在可以處理大量敏感的生物樣本，并迅速生成高分辨率圖像，從而洞察細胞器的關鍵功能和過程。

Verios XHR SEM 優(yōu)勢

• 全新的高對比度檢測器 對敏感的生物樣本進行最佳成像
• 電子束減速 在極低的電壓下提供高分辨率成像和高表面靈敏度
• 電子束熄滅裝置 限制敏感的生物樣本的劑量
• 靜電掃描 最大限度減少圖像失真，并改善成像速度，從而進一步提高工作效率和質量

Verios 的電子工業(yè)應用

• Verios XHR SEM 推出了全新的檢測器硬件，將 SEM 的觀測能力進一步拓展至 20 nm 亞納米量級半導體器件。Verios 可提供最佳的低電壓 SEM 分辨率和材料對比度，能夠讓半導體工藝控制實驗室測量對電子束敏感的材料以及無法使用傳統 SEM 儀器成像的極小結構。 Verios 還包括一些易于使用的新功能，能夠為 22 nm 技術節(jié)點及以下的半導體結構提供最低的每樣本成像和測量成本。

Verios 的材料科學應用

• 對材料科學家來說，Verios 可以將亞納米表征拓展到當下正在開發(fā)的全新材料（例如催化劑顆粒、納米管、孔隙、界面、生物對象和其他納米量級結構），從而讓他們獲得重要的新發(fā)現。無需轉而采用 TEM 或其他成像技術便可獲得高分辨率、高對比度圖像。Verios 可靈活用于各類研究應用，能夠容納全尺寸晶圓或冶金樣本之類的大樣本。您可以在高電流模式下執(zhí)行快速分析，也可以開展精確的原型設計應用，例如電子束感應式材料直接沉積或光刻。

掃描電鏡廣泛地應用于金屬材料（鋼鐵、冶金、有色、機械加工）和非金屬材料（化學、化工、石油、地質礦物學、橡膠、紡織、水泥、玻璃纖維）等檢驗和研究。在材料科學研究、金屬材料、陶瓷材料、半導體材料、化學材料等領域進行材料的微觀形貌、組織、成分分析，各種材料的形貌組織觀察，材料斷口分析和失效分析，材料實時微區(qū)成分分析，元素定量、定性成分分析，快速的多元素面掃描和線掃描分布測量，晶體、晶粒的相鑒定，晶粒尺寸、形狀分析，晶體、晶粒取向測量。

儀器性能和維護對于實驗室的運行來說至關重要，禹重為您提供培訓、儀器服務計劃或按需維修服務，幫助您獲得準確可靠的結果以及最長的儀器正常運行時間。我們很清楚保持儀器的最優(yōu)性能對提高您的生產力極為重要，因此，我們定能在您需要時為您排憂解難。

通過與禹重的合作，您不僅可以獲得最好的分析儀器，而且還將擁有未來最佳的合作伙伴

• FEI 掃描電鏡Verios XHR SEM中文樣本