科學(xué)儀器???實(shí)驗(yàn)方案???計(jì)量檢測(cè)?? 設(shè)備運(yùn)維
科學(xué)儀器???實(shí)驗(yàn)方案???計(jì)量檢測(cè)?? 設(shè)備運(yùn)維
表面分析技術(shù)利用包括透射電子顯微鏡、掃描電子顯微鏡、電子探針、X射線(xiàn)光電子能譜、俄歇電子能譜、二次離子質(zhì)譜、場(chǎng)離子顯微鏡與原子探針、掃描隧道電子顯微鏡、原子力顯微鏡、掠入射X射線(xiàn)衍射等分析手段得到物質(zhì)表面成分、表面結(jié)構(gòu)、表面電子態(tài)及表面物理化學(xué)過(guò)程等信息。憑借我們多年的專(zhuān)業(yè)知識(shí)和經(jīng)驗(yàn),我們?yōu)楹娇?、汽?chē)、材料、電子、化學(xué)、生物、地質(zhì)學(xué)、醫(yī)學(xué)、冶金、機(jī)械加工、半導(dǎo)體制造、陶瓷品等行業(yè)提供可靠且靈活的儀器配置方案,可以幫助您從事最高效的研究活動(dòng)。
電子探針(EPMA)可以對(duì)試樣中微小區(qū)域(微米級(jí))的化學(xué)組成進(jìn)行定性或定量分析,可以進(jìn)行點(diǎn)、線(xiàn)掃描(得到層成分分布信息)、面...
輝光光譜和質(zhì)譜儀主要應(yīng)用于痕量到常量范圍內(nèi)元素的固體形式的直接分析和深度分布分析。整個(gè)周期表內(nèi)的元素均可檢測(cè)分析,分析對(duì)象可...