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ESCALAB XI+ X 射線光電子能譜儀

Thermo Fisher Scientific ESCALAB Xi+是新研發(fā)出的一款基于ESCALAB 250Xi產品后，具有可擴展功能、多種分析技術集成化的測試手段。該產品通過無與倫比的靈活性、完備的專業(yè)配置選項、直觀的軟件操作以及硬件配置，帶給用戶的是領先的的實驗結果和生產力。強大的Avantage數(shù)據(jù)系統(tǒng)提供系統(tǒng)控制、數(shù)據(jù)采集、數(shù)據(jù)處理與系統(tǒng)運行報告等一站式服務。
入圍優(yōu)秀新品獲獎理由：
先進的成像探測器設計，用于定量XPI成像： 電子倍增器和電阻陽極探測器的雙探測器設計，可實現(xiàn)高性能的XPS采譜和高空間分辨的XPS成像的需求?？臻g連續(xù)的電阻陽極探測器創(chuàng)新技術，一方面使得XPI成像分辨率達1um，另一方面使得XPI成像得到數(shù)據(jù)無探測器背底特征，無需背底校正，直接得到微米尺度分辨的定量元素分布成像結果。 可選配的EDS探測器，實現(xiàn)體相分析技術和表面分析技術的結合： 新設計Xi+系統(tǒng)可選配EDS探測器與俄歇電子槍結合，可實現(xiàn)樣品納米尺度的體相微區(qū)元素成分分析，EDS可探測微米深度的元素組成，可以用于材料深度剖析前的元素組成預判。體相敏感的EDS技術和XPS表面分析技術的結合可更直觀地用于研究合金等的表面偏析行為。 標配的反射電子能量損失譜REELS分析技術，用于彌補UPS能帶分析和XPS元素分析： REELS可以探測材料的能級和帶隙結果，并可用于材料中H元素含量的定量。與UPS技術結合可了解完整的價帶導帶信息，并彌補XPS、AES等技術不能檢測H元素含量的缺陷 發(fā)展的系列基于Xi+的成熟準原位樣品處理、制備、反應系統(tǒng): 基于Xi+，設計的一系列成熟的ALD、MBE樣品制備系統(tǒng)，高溫高壓催化還原反應系統(tǒng)和樣品退火系統(tǒng)，滿足不同的科研項目需求。

配備為提供最佳 XPS 性能而設計的單色化X射線源，確保ESCALAB Xi+ X 射線光電子能譜儀 (XPS) 微探針有最高的樣品測試通量。多技術能力、一系列靈活的樣品制備室及樣品處理設備，使該儀器在解決任何表面分析問題時都能游刃有余。利用先進的 Avantage 數(shù)據(jù)采集和處理系統(tǒng)，從測試數(shù)據(jù)中挖掘盡可能多的信息。

ESCALAB Xi+ X 射線光電子能譜儀 (XPS) 微探針的特點：

  • 高靈敏度能譜
  • 小面積 XPS
  • 深度剖析能力
  • 角分辨 XPS
  • 標配離子散射能譜 (ISS)功能
  • 標配反射電子能量損失譜 (REELS)功能
  • 標配“樣品預處理”室
  • 多技術分析的多功能性
  • 多個樣品制備技術可選
  • 全自動無人值守式分析
  • 多樣品分析

單色化X射線源

  • 雙晶體微聚焦單色器配備一個 500 mm 直徑的羅蘭圓，使用鋁陽極靶
  • 樣品 X 射線光斑尺寸可選擇范圍為 200 至 900 μm

透鏡、分析儀和檢測器

  • 透鏡/分析器/檢測器一體化使 ESCALAB 250Xi XPS 能譜儀同時具備成像和小面積 XPS 分析能力的獨特性
  • 兩種類型的檢測器可以確保為每種分析提供最佳檢測——二維檢測器用于成像，基于通道電子倍增器的檢測器則用于需要檢測高計數(shù)率的能譜分析
  • 透鏡配備了兩種電腦控制的光闌組件，一套視場光闌用于控制低至 <20 μm 的分析區(qū)域，適用于小面積分析；另一套光闌則用于控制透鏡的接收角，對于高質量角分辨 XPS 至關重要
  • 180° 半球型能量分析器

深度剖析

  • 數(shù)控式 EX06 離子槍是一款高性能的離子源，哪怕在使用低能離子源時也有著很好的性能
  • 提供方位角樣品旋轉

多技術能力

  • 可配備其他分析技術而不降低 XPS 檢測性能
  • 使用 EX06 離子槍時透鏡組和能量分析儀的電源可反向（確保離子散射能譜 (ISS) 可用）
  • 電子槍可加壓升至 1000 V，為 REELS 提供優(yōu)異的離子源

技術選項

  • 非單色化 X 射線光源的XPS分析
  • AES（俄歇電子能譜）
  • UPS（紫外光電子能譜）

真空系統(tǒng)

  • 5 mm 厚高導磁?金屬分析室，最大程度提高磁屏蔽效率
  • 與使用內部或外部屏蔽的方法相比，屏蔽效能更佳

樣品制備

  • 系統(tǒng)標配一體化的快速進樣室和制備室
  • 額外的制備室可選

Avantage 數(shù)據(jù)系統(tǒng)

  • 集成了測試分析的所有方面，包括儀器控制、數(shù)據(jù)采集、數(shù)據(jù)處理和報告生成
  • 允許遠程控制，并且可輕松與第三方軟件交互（例如 Microsoft Word）
  • 管理從樣品載入到報告導出的整個分析過程
  • 催化
  • 化工
  • 半導體
  • 微電子
  • 薄膜
  • 太陽能
  • 金屬
  • 納米材料
  • 玻璃
  • 高分子
  • 生物材料

儀器性能和維護對于實驗室的運行來說至關重要，禹重和賽默飛為您提供培訓、儀器服務計劃或按需維修服務，幫助您獲得準確可靠的結果以及最長的儀器正常運行時間。我們很清楚保持儀器的最優(yōu)性能對提高您的生產力極為重要，因此，我們定能在您需要時為您排憂解難。

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