科學(xué)儀器???實(shí)驗(yàn)方案???計(jì)量檢測(cè)?? 設(shè)備運(yùn)維
科學(xué)儀器???實(shí)驗(yàn)方案???計(jì)量檢測(cè)?? 設(shè)備運(yùn)維
Dimension Edge原子力顯微鏡既具有卓越性能,保留了Dimension ICON系統(tǒng)的諸多技術(shù)創(chuàng)新,中等價(jià)位的價(jià)格 與儀器功能達(dá)到了最好的平衡。其中最核心的技術(shù)是 Bruker創(chuàng)新性的閉環(huán)掃描,結(jié)合溫度補(bǔ)償位置傳感器和模 塊化的低噪音控制電路,這套針尖掃描部件把閉環(huán)噪音減 小到了單個(gè)化學(xué)鍵長(zhǎng)度。為了最大限度的發(fā)揮這一優(yōu)點(diǎn),掃描器被固定在一個(gè)堅(jiān)固的,具有漂移補(bǔ)償?shù)臉蛄航Y(jié)構(gòu)上。此橋梁結(jié)構(gòu)基于FPGA的溫度控制并快速穩(wěn)定到極低的漂移速率。因此,Dimension Edge原子力顯微鏡結(jié)合了高生產(chǎn)效率,高精度,大樣品臺(tái)的樣品通用性,閉環(huán)操作 和以前僅在小樣品臺(tái)、開環(huán)儀器上才能獲得的高分辨率圖像等特點(diǎn),能夠獲得任何樣品的真實(shí)圖像,實(shí)現(xiàn)突破性的實(shí)驗(yàn)成果。
完備的AFM功能
Dimension Edge既包含了各種常規(guī)的掃描模式和Bruker專利技術(shù),還提供了針對(duì)各種具體應(yīng)用領(lǐng)域的解決方案,例如納米級(jí)的電學(xué)測(cè)量,可控環(huán)境下的材料表征等。這些功能都能夠在廣泛應(yīng)用中獲得精確成像和單點(diǎn)譜線測(cè)量,例如從太陽能和半導(dǎo)體器件的表征和多相聚合物材料成像,到從單分子到全細(xì)胞的生命科學(xué)樣品的原位成像和單個(gè)納米顆粒的研究。
電學(xué)表征
Dimension Edge不僅僅是把一個(gè)AFM探針連接到低噪音電流放大器上,而是開發(fā)了Dark Lift模式,Dark Lift是在導(dǎo)電原子力數(shù)據(jù)把光電效應(yīng)從樣品的本征電導(dǎo)性中清晰分離的唯一方法。它是基于布魯克已申請(qǐng)專利的,應(yīng)用磁力顯微鏡和靜電力顯微鏡中著名 的抬起模式(Lift Mode)。系統(tǒng)利用這兩種性能以確保在靜電電勢(shì)成像應(yīng)用的最優(yōu)化測(cè)試。迄今為止,結(jié)合了Dark Lift模式的閉環(huán)(常損耗量)的掃描電容顯微鏡(SCM)依然是對(duì)摻雜濃度表征的最精確的解決方案。然而,如果研究者想要以最高靈敏度來探測(cè)小電壓的變化,也可很容易地把抬起模式 與表面電勢(shì)顯微鏡結(jié)合起來。Dimension Edge系統(tǒng)通過雙頻的方法,能夠?yàn)槿魏戊o電電勢(shì)成像的應(yīng)用提高理想的解決方案。
性價(jià)比最高的閉環(huán)Dimension系列AFM
快速,精確,高分辨的測(cè)量結(jié)果
適用于任何實(shí)驗(yàn)樣品和研究目的的解決方案
擁有先進(jìn)的納米級(jí)測(cè)量能力,適用范圍廣泛
儀器性能和維護(hù)對(duì)于實(shí)驗(yàn)室的運(yùn)行來說至關(guān)重要,禹重為您提供培訓(xùn)、儀器服務(wù)計(jì)劃或按需維修服務(wù),幫助您獲得準(zhǔn)確可靠的結(jié)果以及最長(zhǎng)的儀器正常運(yùn)行時(shí)間。我們很清楚保持儀器的最優(yōu)性能對(duì)提高您的生產(chǎn)力極為重要,因此,我們定能在您需要時(shí)為您排憂解難。
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