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理學(xué)MiniFlex X射線衍射儀（XRD）具有歷史意義，因?yàn)樗堑谝慌_(tái)商用臺(tái)式（臺(tái)式或臺(tái)式）X射線衍射儀。1973 年推出時(shí)，最初的 Miniflex? 臺(tái)式 XRD 的尺寸約為當(dāng)時(shí)傳統(tǒng) X 射線衍射 （XRD） 設(shè)備的十分之一，而且成本要低得多。最初的儀器（第 1 代）及其于 1976 年推出的繼任者（第 2 代）采用了水平測(cè)角儀，數(shù)據(jù)輸出由內(nèi)部帶狀圖記錄儀提供。第三代（第 3 代）臺(tái)式衍射儀于 1995 年推出，稱為 Miniflex+。它使 X 射線功率大幅提高到 450 瓦（通過在 30kV 和 15mA 下運(yùn)行）和 Windows PC 計(jì)算機(jī)控制。Miniflex+ 和后續(xù)幾代臺(tái)式衍射儀均采用垂直測(cè)角儀，并允許使用自動(dòng)進(jìn)樣器。第四代（第 4 代）Miniflex II 臺(tái)式 XRD 于 2006 年推出，它改進(jìn)了單色 X 射線源和 D/teX Ultra 1D 硅條探測(cè)器。第五代（第 5 代）臺(tái)式 XRD 于 2012 年推出，在此基礎(chǔ)上構(gòu)建了 600W 的可用功率和新的粉末衍射軟件。

主要特點(diǎn)：
臺(tái)式X射線衍射儀MiniFlex600，外型小巧方便，具有近于高端分析儀器的測(cè)試性能，可以廣泛應(yīng)用于各種材料結(jié)構(gòu)分析的各個(gè)領(lǐng)域，是一種適用于大專院校學(xué)生實(shí)驗(yàn)及研究的X射線衍射儀,特別適合于野外作業(yè)進(jìn)行材料結(jié)構(gòu)解析；Miniflex600系列也是一種適用于工廠生產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)質(zhì)量管理檢查，勞動(dòng)保護(hù)、環(huán)境污染測(cè)量的X射線衍射儀。

• 打破以往X射線分析儀器常規(guī)，以小型化和高效能的完美組合刷新了X射線行業(yè)的基準(zhǔn)；
• 外箱采用具有高度安全性的完全密封設(shè)計(jì)，使儀器移動(dòng)、安裝均能簡(jiǎn)單自如完成，可充分調(diào)整光學(xué)系統(tǒng)；
• 安裝后接入電源即可開始使用，操作簡(jiǎn)單，初學(xué)者也能輕松自如；
• 具有超高性價(jià)比的MiniFlex 600，為您開創(chuàng)輕松自由的X射線新時(shí)代。

技術(shù)參數(shù)

• 最小最輕的X射線衍射儀。主機(jī)寬約560mm，高700mm，深395mm；重量約80kg。
• 功率600W，強(qiáng)度大大提高（上一代產(chǎn)品MiniFlexII最大功率450W）。
• 測(cè)角儀精度高、放置樣品方便。
• 測(cè)角儀配程序式可變狹縫，改善低角度P/B，提高高角度強(qiáng)度。
• 安全設(shè)計(jì)，放置樣品時(shí)自動(dòng)關(guān)閉X射線。
• 軟件豐富
• 附件可配：

• 計(jì)數(shù)端單色器，扣除Kβ、熒光X射線，提高P/B比
• 旋轉(zhuǎn)樣品臺(tái)
• 隔絕空氣。水蒸氣樣品臺(tái)
• 六樣品自動(dòng)交換器
• 高速一維陣列探測(cè)器D/teX Ultra2

主要的應(yīng)用軟件有：

• 多重記錄
• 定性分析
• 定量分析
• ICDD數(shù)據(jù)庫管理
• 環(huán)境粉塵專用定量軟件

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智能X射線衍射儀SmartLab系列，是當(dāng)今世界高性能的多功能的X射線衍射儀，它采用了理學(xué)獨(dú)創(chuàng)的CBO交叉光學(xué)系統(tǒng)、自動(dòng)識(shí)別所有光學(xué)組件、樣品臺(tái)、智能的測(cè)量分析軟件SmartLab Guidance，一臺(tái)儀器可以智能進(jìn)行普通粉末樣品、液體樣品、納米材料、藥品、半導(dǎo)體、薄膜樣品測(cè)試。

技術(shù)參數(shù)

• X射線發(fā)生器功率為3KW、新型9KW轉(zhuǎn)靶
• 測(cè)角儀為水平測(cè)角儀
• 測(cè)角儀最小步進(jìn)為1/10000度，最高精度測(cè)角儀（雙光學(xué)編碼、直接軸上定位）（理學(xué)專利）
• 測(cè)角儀配程序式可變狹縫
• 自動(dòng)識(shí)別所有光學(xué)組件、樣品臺(tái)（理學(xué)專利）
• CBO交叉光路，提供聚焦光路及高強(qiáng)度高分辨平行光路（帶Mirror）（理學(xué)專利）
• 小角散射測(cè)試組件(SAXS / Ultra SAXS)
• 多用途薄膜測(cè)試組件
• 微區(qū)測(cè)試組件、CBO-F微區(qū)光學(xué)組件
• In-Plane測(cè)試組件（理學(xué)獨(dú)有）
• 入射端Ka1光學(xué)組件
• 高速探測(cè)器D/teX-Ultra（能量分辨率20%以下）
• 二維面探PILATUS 100K/R(用于同步輻射環(huán)的探測(cè)器，可以接收直射X射線)
• 智能的測(cè)量分析軟件SmartLab Guidance（專利）

主要的應(yīng)用有：

• 粉末樣品的物相定性與定量分析
• 計(jì)算結(jié)晶化度、晶粒大小
• 確定晶系、晶粒大小與畸變
• Rietveld定量分析
• 薄膜樣品分析，包括薄膜物相、多層膜厚度、表面粗糙度，電荷密度
• In-Plane裝置可以同時(shí)測(cè)量樣品垂直方向的結(jié)構(gòu)及樣品深度方向的結(jié)構(gòu)
• 小角散射與納米材料粒徑分布
• 微區(qū)樣品的分析
• 方便的無損樣品制備。

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組合式多功能X射線衍射儀Ultima?IV系列是一種高性能多功能的粉晶X射線衍射儀，它采用了理學(xué)獨(dú)創(chuàng)的CBO交叉光學(xué)系統(tǒng)，一臺(tái)儀器可以進(jìn)行從普通粉末樣品到包括In-Plane在內(nèi)的薄膜樣品測(cè)試。采用組合式結(jié)構(gòu)，通過對(duì)各個(gè)單元的不同組合，可以進(jìn)行各種測(cè)試。

?技術(shù)參數(shù)

• X射線發(fā)生器功率為3KW
• 測(cè)角儀為水平測(cè)角儀
• 測(cè)角儀最小步進(jìn)為1/10000度
• 測(cè)角儀配程序式可變狹縫
• 高反射效率的石墨單色器
• CBO交叉光路，提供聚焦光路及高強(qiáng)度高分辨平行光路（帶Mirror）（理學(xué)獨(dú)有）
• 小角散射測(cè)試組件
• 多用途薄膜測(cè)試組件
• 微區(qū)測(cè)試組件
• In-Plane測(cè)試組件（理學(xué)獨(dú)有）
• 高速探測(cè)器D/teX-Ultra
• X射線衍射-差示掃描量熱儀同時(shí)測(cè)量裝置 XRD-DSC
• 分析軟件包括：XRD分析軟件包、NANO-Solver軟件包、GXRR軟件包等?

主要特點(diǎn)：

組合式多功能X射線衍射儀Ultima IV系列，可以廣泛應(yīng)用于各種材料結(jié)構(gòu)分析的各個(gè)領(lǐng)域。
可以分析的材料包括：金屬材料、無機(jī)材料、復(fù)合材料、有機(jī)材料、納米材料、超導(dǎo)材料
可以分析的材料狀態(tài)包括：粉末樣品、塊狀樣品、薄膜樣品、微區(qū)微量樣品

主要的應(yīng)用有：

• 粉末樣品的物相定性與定量分析
• 計(jì)算結(jié)晶化度、晶粒大小
• 確定晶系、晶粒大小與畸變
• Rietveld結(jié)構(gòu)分析
• 薄膜樣品分析，包括薄膜物相、多層膜厚度、表面粗糙度，電荷密度
• In-Plane裝置可以同時(shí)測(cè)量樣品垂直方向的結(jié)構(gòu)及樣品深度方向的結(jié)構(gòu)
• 小角散射與納米材料粒徑分布
• 微區(qū)樣品的分析

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主要的應(yīng)用有：

• 粉末樣品的物相定性與定量分析
• 計(jì)算結(jié)晶化度、晶粒大小
• 確定晶系、晶粒大小與畸變
• Rietveld定量分析
• 薄膜樣品分析，包括薄膜物相、多層膜厚度、表面粗糙度，電荷密度
• In-Plane裝置可以同時(shí)測(cè)量樣品垂直方向的結(jié)構(gòu)及樣品深度方向的結(jié)構(gòu)
• 小角散射與納米材料粒徑分布
• 微區(qū)樣品的分析
• 方便的無損樣品制備。

儀器性能和維護(hù)對(duì)于實(shí)驗(yàn)室的運(yùn)行來說至關(guān)重要，禹重科技為您提供培訓(xùn)、儀器服務(wù)計(jì)劃或按需維修服務(wù)，幫助您獲得準(zhǔn)確可靠的結(jié)果以及最長(zhǎng)的儀器正常運(yùn)行時(shí)間。我們很清楚保持儀器的最優(yōu)性能對(duì)提高您的生產(chǎn)力極為重要，因此，我們定能在您需要時(shí)為您排憂解難。

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