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ELEMENT XR主要特點：

• 線性范圍寬：線性范圍達12個數(shù)量級，不同模式自動切換校正；
• 靈敏度高：可使用賽默飛最新的Jet接口技術，提供無與倫比的靈敏度；
• 具有固定寬度的低、中、高分辨率狹縫，采用高分辨率可直接分析有質(zhì)譜干擾的同位素。

ELEMENT 2主要特點：

具備多元素分析能力

• 多元素檢測器具備處理瞬態(tài)信號（包括CE、HPLC、GC、FFF和激光燒蝕）的速度
• 從超痕量到基質(zhì)組分、從mg/L到亞pg/L濃度范圍的覆蓋周期表的無干擾測量
• 與無機和有機固體以及幾乎所有溶液基質(zhì)兼容

全自動的常規(guī)分析

• 自動調(diào)節(jié)所有參數(shù)，包括透鏡、氣流和炬位，以獲得可重復而可靠的系統(tǒng)設置
• 全面、可定制的質(zhì)量控制系統(tǒng)
• 可靠耐用，可作為全年無休的生產(chǎn)控制工具，最大化樣品通量

具有靈活性和易用性的先進研究工具

• 擁有權限進入方法開發(fā)的所有儀器參數(shù)
• 具有高質(zhì)量分辨率，可識別受干擾的同位素光譜： 生成明確的元素光譜
• 無論是否存在干擾情況，也能獲得高精度的同位素比檢測
• 熱和冷等離子體狀態(tài)
• 高穩(wěn)定性的同位素比

Thermo Scientific? Element 2? 和 Element XR? 高分辨率 ICP-MS 提供了同類領先的干擾消除能力，可獲得極高水平的可靠性。在微量濃度下進行超靈敏、可靠的多元素分析，無需復雜的樣品制備和方法開發(fā)。

在質(zhì)譜中，當干擾離子的質(zhì)荷比 (m/z) 與分析物離子重疊時，會發(fā)生光譜干擾。這些干擾是 ICP-MS 的主要限制。幸運的是，有一種更好的方法。扇形場質(zhì)譜儀的高質(zhì)量分辨潛力可通過利用質(zhì)荷比的微小差異，從物理上區(qū)分分析物和干擾物。因此，無論樣品基質(zhì)如何，高分辨率 (HR) ICP-MS 均可對幾乎整個周期表的元素濃度進行定量并確定元素的精確同位素比值。

高分辨率 ICP-MS 的簡單性使其具有極先進的性能，而不會影響簡單可靠的方法開發(fā)。這使得元素系列成為頂級研究和計量機構以及全球先進常規(guī)分析實驗室的首選平臺。

Thermo Scientific? Element 2? 和 Element XR? 高分辨率 ICP-MS 系統(tǒng)涵蓋 mg/L 至亞 pg/L 的濃度范圍—尤其適合半導體、環(huán)境監(jiān)測、核科學、地球科學、材料科學等各個領域

賽默飛世爾科技進入中國已超過30年，在中國的總部設于上海，位于上海的中國創(chuàng)新中心結合國內(nèi)市場的需求和國外先進技術，研發(fā)適合中國的技術和產(chǎn)品；遍布全國的維修服務網(wǎng)點和特別成立的中國技術培訓團隊，在全國有超過2000 名工程師提供售后服務。

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• 賽默飛ELEMENT 2&XR 高分辨HR-ICP-MS中文樣本